成像式亮度计
广泛应用于显示器件、Micro-LED、Mini-LED、AR/VR近眼显示、车载显示、背光模组及光学模组等领域的亮度均匀性和缺陷检测，可快速捕获被测物体整个表面的亮度分布信息，精准测量亮度&亮度均匀性等核心光学参数，支持单像素级精细化检测，能高效识别发光表面暗点、亮点、Mura（亮度不均）等细微缺陷。
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产品优势
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01采用高像素CMOS传感器，可实现微米级空间分辨率，适用于Micro-LED、OLED等微显示器件检测
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02一次采集即可获取整个显示区域的亮度分布图，显著提升检测效率
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03可集成自动对焦、自动曝光及工业接口，适用于产线自动检测系统
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04开放的测量与分析能力，支持多种定制需求；高一致性与稳定性设计，适合工程与产线应用
产品功能
1.二维亮度分布测量：实时获取被测目标的亮度分布图像，并计算最大值、最小值、均值、均匀性等关键指标
2.ROI区域分析与批量统计：支持单点、矩形、阵列等多种ROI设定方式，适合像素级、模组级亮度分析
3.亮度一致性与缺陷评估：可用于亮度异常检测均匀性评估、暗点/亮点检测及趋势分析，辅助工艺与良率评估
4.标定与数据追溯支持：支持系统级亮度标定流程，测量结果具备可追溯性，满足研发和客户审核需求
